ATCOR – Cs Korrektor für TEM mit optimierter Aberrationskorrektur für Phasenkontrast-TEM bei größeren Bildfeldern
Der ATCOR ist die Weiterentwicklung unseres bewährten CETCOR Cs-Korrektors für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Der neue ATCOR kombiniert die Eigenschaften des CETCORs (Korrektur der sphärischen Aberration Cs und aller Bildfehler bis zur 3.Ordnung) mit der Korrektur des sechszähligen Astigmatismus A5, dank optimierter Hexapollängen. Zudem bietet der ATCOR eine vollständige Korrektur aller Aberrationen der 4. Ordnung (A4, B4, D4) und eine Korrektur von parasitären(+) außeraxialen Aberrationen niedriger Ordnung (A1g, A1G, C1g, B2g), dank der neu integrierten mittleren Transferoptik und zusätzlichen Stigmatoren. Durch die zusätzliche Minimierung der intrinsischen (++) außeraxialen Aberrationen (S3g, A3g), bietet der ATCOR ein um den Faktor 2.5x größeres aberrationsfreies Bildfeld im Vergleich zum CETCOR. Die Korrektur aller Aberrationen bis zur 4. Ordnung und von A5 ermöglicht für die Phasenkontrastabbildung im TEM eine konstante Phasenkontrast-Transferfunktion (PCTF) bis zu höchsten Raumfrequenzen. Dies eignet sich besonders für die Anwendung mit kalter Feldemission oder monochromatischer Elektronenquelle für TEM mit höchsten Auflösungen. Das optimierte Bildfeld des ATCORs ermöglicht die Nutzung von großen 2kx2k Detektoren ohne Einbußen der Abbildungsqualität zum Bildrand hin. Die effiziente Nutzung noch größerer Detektoren erfordert die Korrektur der außeraxialen Koma. Dies ermöglicht der BCOR.
(+) Parasitäre Aberrationen = Aberrationen die durch Toleranzen und Ungenauigkeiten in der mechanischen Montage des Korrektors entstehen
(++) Intrinsische Aberrationen = Aberrationen die bewusst durch die Wahl des optischen Designs des Korrektors entstehen und unvermeidbar sind
Merkmale:
- Erweiterter Hexapol-Typ Cs Korrektor für TEM
- Korrektur aller axialen Bildfehler bis zur 4. Ordnung (A1, B2, A2, C3, S3, A3, A4, B4, D4)
- Korrektur des sechszähligen Astigmatismus A5 für den gesamten Hochspannungsbereich. Dadurch konstantes Phasenkontrastübertragungsband.
- Besonders geeignet für TEM mit niedriger Beschleunigungsspannung
- Korrektur von parasitären außeraxialen Aberrationen niedriger Ordnung (A1g, A1G, C1g, B2g)
- Minimierung von intrinsischen außeraxialen Aberrationen (S3g, A3g). Dadurch x2.5 größeres aberrationskorrigiertes Bildfeld im Vergleich zum CETCOR
- Identische Maße und Schnittstellen wie CETCOR. Dadurch direkt kompatibel mit existierenden CETCOR Systemen.
- Kompatibel mit folgenden TEMs: JEOL NEOARM, weitere auf Anfrage
Technische Daten:
- Maße (HxBxT): 246 x 396 x 306 mm
- Modus: TEM
- Hochspannungsbereich: 30kV - 200 kV
- Maximale Auflösung: Phasenrichtige Abbildung bis 40 mrad Aperturwinkel. Dies bedeutet für die Auflösung bei verschiedenen Hochspannungen:
- 40 mrad (Aperturwinkel) - 30 kV (Hochspannung) - 174.5 pm (Auflösung)
- 40 mrad (Aperturwinkel) - 80 kV (Hochspannung) - 104.5 pm (Auflösung)
- 40 mrad (Aperturwinkel) - 200 kV (Hochspannung) - 62.75 pm (Auflösung)
Anwendungsbereich:
- Hochauflösende Phasenkontrastmikroskopie bis zu höchsten Raumfequenzen für TEMs nach neustem Stand der Technik
- Höchstauflösungs-TEM mit Monochromator für die Elektronenquelle
- Niederspannungs-TEM
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